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公司新聞
應(yīng)用實(shí)例丨技術(shù)賦能顯示視界！慕藤光激光對(duì)焦與圖像對(duì)焦技術(shù)在顯示面板修復(fù)檢測的應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間：2025-05-08 18:16:31 訪問數(shù)：290



Preface


全球顯示面板產(chǎn)業(yè)規(guī)模在極速擴(kuò)大，目前主流的平面顯示技術(shù)主要包括LCD（液晶顯示技術(shù)）、OLED（有機(jī)發(fā)光二極管顯示技術(shù)）、QLED（量子點(diǎn)發(fā)光二極管）、Mini LED（微小發(fā)光二極管顯示技術(shù)）以及Micro LED（微米發(fā)光二極管顯示技術(shù)）。

顯示平板的制造流程較為復(fù)雜，可分為Array制程、Cell制程及Module制程三大階段，復(fù)雜的工藝過程中不可避免地產(chǎn)生各種表面缺陷，包括灰塵、臟污、劃痕等，這些缺陷的存在可能對(duì)顯示面板的功能和外觀造成影響。


面板邊緣缺陷明暗場檢測




檢測需求




檢測需求：對(duì)面板的芯片和基板封裝后進(jìn)行邊緣缺陷檢測

對(duì)焦精度：＜1μm

跟焦速度：＜30ms

檢測方式：線激光對(duì)焦光學(xué)系統(tǒng)明暗場檢測




檢測原理




通過環(huán)形光源的明暗場照明方式，明場照明模式，通過垂直均勻光照呈現(xiàn)樣本形態(tài)，檢測面板外觀良好；通過暗場照明方式激發(fā)散射光成像，顯著增強(qiáng)樣品微小顆粒與表面細(xì)節(jié)對(duì)比度，適用于裂紋、劃痕等缺陷。


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圖：慕藤光紅外對(duì)焦成像解決方案原理



視覺方案




線激光對(duì)焦傳感器：MLAF-7V

物鏡：5X物鏡

相機(jī)：彩色相機(jī)

光源：明暗場環(huán)形光源

掃描速度：120mm/s

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圖：慕藤光激光自動(dòng)對(duì)焦明暗場解決方案-面板邊緣缺陷檢測應(yīng)用



圖片

檢測效果



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圖：面板邊緣外弧-暗場檢測測效果圖



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圖：面板孔區(qū)裂痕-明場檢測效果圖





Mini LED芯片缺陷檢測





檢測需求




檢測需求：識(shí)別并檢測缺陷的Mini LED芯片

樣品：Mini LED芯片

離焦距離：100-200um

對(duì)焦時(shí)間：1-1.5s




檢測原理




慕藤光圖像對(duì)焦檢測是建立在圖像AI算法模式上的調(diào)焦方法，能夠?qū)︾R頭與傳感器采集的圖像進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和處理，進(jìn)而控制運(yùn)動(dòng)軸進(jìn)行移動(dòng)完成聚焦，覆蓋±150um至±1mm大搜索范圍，實(shí)現(xiàn)大范圍內(nèi)的快速對(duì)焦檢測。


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圖：慕藤光圖像對(duì)焦檢測原理




視覺方案




相機(jī)：CameraLink工業(yè)相機(jī)

鏡頭：MF200-C-S

物鏡：MA-10F (20X)

圖像對(duì)焦傳感器：MIAF-500

光源：MV-IW

圖像格式：2432*2048





圖片

檢測效果



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圖：Mini LED晶圓缺陷芯片檢測





OLED柔性面板均勻度修復(fù)檢測




檢測需求




OLED柔性面板生產(chǎn)中，屏幕高度不一致時(shí)需要對(duì)焦




檢測原理




針對(duì)面板屏幕高度存在差異的情況，依據(jù)圖像對(duì)焦原理中對(duì)物體距離建模及成像焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)制，慕藤光圖像對(duì)焦傳感器MIAF-500可在1-2s內(nèi)對(duì)傳感器采集的圖像進(jìn)行實(shí)時(shí)分析，快速響應(yīng)，解決±150um范圍的精準(zhǔn)調(diào)節(jié)對(duì)焦，進(jìn)而精準(zhǔn)檢測屏幕顯示均勻度。





視覺方案



圖片


圖：OLED面板均勻度修復(fù)-慕藤光圖像對(duì)焦視覺方案



圖片

檢測效果



圖片

圖：OLED柔性面板均勻度檢測圖



圖片

產(chǎn)品參數(shù)


圖片